隨著PCB導體圖形的細線化、SMT器件小型化和SMT組件的高密度化發展的需要，自動光學檢測（AOI）技術迅速發展起來，并已在SMT檢測技術中廣泛采用。 AOI原理與貼片機和印刷機所用的視覺系統的原理相同，通常采用設計規則檢驗（DRC）和圖形識別二種方法。DRC法按照一些給定的規則（如所有連線應以焊點為端點，所有引腳寬度不小于0.127um，所有引腳之間的間隔不小于0.102mm等）檢查電路圖形。這種方法可以從算法上保證被檢驗電路的正確性，而且具有制造容易、算法邏輯容易實現高速處理、程序編輯量小、數據占用空間小等特點，為此采用該檢驗方法的較多。但是該方法確定邊界能力較差，常用引腳檢驗算法根據求得的引腳平均值確定邊界位置，并按設計確定灰度級。 圖形識別法是將存儲的數字化圖像與實際圖像比較。檢查時按照一塊完好的PCB或根據模型建立起來的檢查文件進行比較，或者按照計算機輔助設計中編制的檢查程序進行。精度取決于分辨率和所用檢查程序，一般與電子測試系統相同，但是采集的數據量大，數據實時處理要求高。然而由于圖形識別法用實際設計數據代替DRC中既定設計原則，具有明顯的優越性。